傳統(tǒng)CT系統(tǒng)使用反射管作為射線源。為了穿透有挑戰(zhàn)性的材料或組件較厚的樣品需要使用高功率，但高功率會對分辨率產(chǎn)生影響。簡單來說，使用的功率越高，分辨率就越差。為了抵消這種現(xiàn)象，需要使用較低的功率水平和相應(yīng)更長的測量時間。但在使用diondo d1時就無需有這種顧慮。通過使用高功率透射X射線源，與傳統(tǒng)系統(tǒng)相比，在相同測量時間下，diondo d1可以獲得高達(dá)四倍的更高分辨率，或者，測量時間可以縮短四倍，以獲得相同的分辨率，這對小批量檢測有很大好處，并且不僅限于此。